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產品詳情

  • 產品名稱：大靶面InGaAs光束質量分析儀BLC-SWIR 1915

  • 產品型號：
  • 產品廠商：博納德BND產品
  • 產品文檔：
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簡單介紹：
?BLC-SWIR 1915光束質量分析儀是一款高分辨率 SWIR 相機，分辨率為 1280×1024 像素，像素間距為 15μm，具有 900nm-1700nm 波段的高靈敏度檢測能力，可提供該波段的高清圖像。相機內置 TE Cooler，暗電流較低，讀出噪音低至 40e-。此外，還具有多種增益模式和非均勻性校正，可以在夜間弱光條件下提高高清圖像，體積小、重量輕，易于集成。
詳情介紹：

BLC-SWIR 1915光束質量分析儀是一款高分辨率 SWIR 相機，分辨率為 1280×1024 像素，像素間距為 15μm，具有 900nm-1700nm 波段的高靈敏度檢測能力，可提供該波段的高清圖像。相機內置 TE Cooler，暗電流較低，讀出噪音低至 40e-。此外，還具有多種增益模式和非均勻性校正，可以在夜間弱光條件下提高高清圖像，體積小、重量輕，易于集成。

一、規格參數

產品型號 BLC-SWIR 1915
像元數 1280 x 1024
光譜響應 900 -1700nm
像元間距 15μm x 15μm
光學接口 M42 x 1
有效面積 19.2mm x 15.36mm
量子效率 ＞70%（1.0μm ~ 1.5μm）
幀頻 25 Hz
積分時間 0.2μs
滿阱容量 1.8Me-
數字輸出 Gnet（千兆網口）
制冷方式 TEC
暗電流 30fA@0.1V&18℃
ADC 12bit
觸發接口 RS-422 /TTL
讀出噪聲 ＜ 40e-（CDS模式）
開窗模式 支持（定制）
曝光模式 全局曝光
電源輸入 DC 12V ± 2V
功耗 ＜4W （不開啟TEC）
工作溫度 -20℃ ~ +70℃
圖像校正 支持單點/兩點校正

二、案例



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